Analyses de traces
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Documentation & Publications
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IMAGEUR IR SPOTLIGHT™ 400i
Le système d'imagerie Spotlight 400 FT-IR combine la sensibilité élevée et l’imagerie rapide avec une facilité d'utilisation. La capacité d'imager rapidement de grandes zones d'échantillonnage à haute résolution spatiale étend la microscopie FT-IR à de nouvelles applications. -
Microscope IR Spotlight™ 150i/200i
Les Systèmes IR Spotlight™ 150i de 200i traitent facilement des échantillons de moins de 50 microns, avec des résultats précis et reproductibles.
