MaterialsLab XM
Solartron analytical
La référence pour la caractérisation electriques de vos matériaux
Le MaterialsLabXM apporte à votre laboratoire un des instruments les plus performants pour caractériser éléctriquement vos matériaux. Effectuer vos mesures DC et AC avec un seul instrument
Caractéristiques
- Mesure domaine temporel DC : I-V,P-E, pulses rapide
- Mesures domaine fréquentiel AC: impedance, capacitance,C-V, Mott-Schottky
- Fonction MultiSine pour des mesures rapides même à basse fréquence
- Logiciel de contrôle et de traitement XMstudio MTS
Description
Spécifications
Applications
Ressources
Le nouveau MaterialsLab XM a été développé pour apporter une solution économique aux scientifiques recherchant les performance exceptionnelles du Modulab XM mais uniquement pour des applications de mesures d’impédances de matériaux.
Le MaterialsLab XM est conçu avec la même plateforme que le Modulab XM et permet en plus un gain de palce important dans votre laboratoire
- Polarisation : +/- 8V
- Résolution de mesure en tension : 1µV
- Résolution de mesure en courant : 1.5 pA
- Fréquences: 10µHz à 1Mhz
- Impédances > 1TOhms
